Ｘ射线荧光镀层测厚及材料分析仪产品用途

由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统，因而应用广泛：
在电子和半导体产业里，测量触点上薄金，铂和镍层厚度或痕量分析。
在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中，精确分析贵金属合金组分。
在质量管控和来料检验中，需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业
中，光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中，则需要测量大批量部件
的厚度。
对于电子产品的生产者和采购者，检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》
（RoHS指令）也是十分关键的。
在玩具工业中，也需要有可靠的有害物质检测手段。
对于以上测量应用，菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光谱仪都能完美胜任。

Ｘ射线荧光镀层测厚及材料分析仪产品特点

1.快速无损的镀层厚度测量（单层或多镀层）
2.分析固态，粉末或液态样品
3.有害物痕量分析
4.高精度和准确度
5.十分广泛的应用
6.准确测量基材是磁性和导电的材料
7.样品制备非常简单
8.测试方法安全，没有使用危害环境的化学制品
9.无耗品，物超所值